T005834　电力半导体器件中间测试技术

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王益成等编著。

机械工业出版社1990年5月版。29．2万字。

系统介绍电力半导体器件中间测试的基本原理、测试方法及其对电力半导体器件特性的影响。包括半导体材料的检测，电力半导体器件电流放大系数的测量，电子寿命的测量，杂质浓度分布的测量，表面电场和空间电荷区的测量，晶闸管扩展速度的观测，热特性的测量，二次击穿的检测，伏安特性测试和显微技术及其在半导体技术中的应用等。